Rastertunnelmikroskop

Ein Rastertunnelmikroskop (RTM, englisch scanning tunneling microscope, STM) nutzt den Tunneleffekt, um die Oberflächenstruktur von Materialien auf atomarer Ebene abzubilden. Dazu wird eine extrem feine Spitze in der Nähe der Probenoberfläche positioniert. Wird eine elektrische Spannung zwischen der Spitze und der Oberfläche angelegt fliesst ein winziger Tunnelstrom sofern der Abstand klein genug ist. Dieser Strom hängt exponentiell vom Abstand ab, sodass durch das Abtasten der Oberfläche die atomare Topografie präzise rekonstruiert werden kann.

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Caption: Schematische Darstellung eines Rastertunnelmikroskops, Michael Schmid and Grzegorz Pietrzak, CC BY-SA 2.0 AT https://creativecommons.org/licenses/by-sa/2.0/at/deed.en via Wikimedia Commons href="https://commons.wikimedia.org/wiki/File:Rastertunnelmikroskop-schema.svg

Detaillierte Beschreibung (Wikipedia)